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標準號 |
是否采標 |
標準名稱 |
發(fā)布日期 |
實施日期 |
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工業(yè)用丙烯腈第16部分：鐵含量的測定石墨爐原子吸收法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅拋光片表面質(zhì)量目測檢驗方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片表面平整度測試方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片厚度和總厚度變化測試方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片電阻率測定擴展電阻探針法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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鎢精礦化學分析方法銅量的測定火焰原子吸收光譜法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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鎢精礦化學分析方法鉬量的測定硫氰酸鹽分光光度法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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鎢精礦化學分析方法磷量的測定磷鉬黃分光光度法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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鎢精礦化學分析方法鐵量的測定磺基水楊酸分光光度法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅多晶斷面夾層化學腐蝕檢驗方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅拋光片氧化誘生缺陷的檢驗方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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香蕉穿孔線蟲檢疫鑒定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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擬毛刺線蟲屬（傳毒種類）檢疫鑒定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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毛刺線蟲屬（傳毒種類）檢疫鑒定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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穿刺根腐線蟲檢疫鑒定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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照相化學品有機物中微量元素的分析電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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酸浸取電感耦合等離子質(zhì)譜儀測定多晶硅表面金屬雜質(zhì) |
2009/10/30 |
2010/6/1
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多壁碳納米管純度的測量方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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半導體單晶晶向測定方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅晶體完整性化學擇優(yōu)腐蝕檢驗方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測定光電導衰減法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定直排四探針法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片直徑測量方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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片基與膠片拉伸性能的測定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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固體化學肥料包裝 |
2009/11/30 |
2010/6/1
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核電站用無縫鋼管第2部分：合金鋼無縫鋼管 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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核電站用無縫鋼管第1部分：碳素鋼無縫鋼管 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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采
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飾面石材用膠粘劑 |
2009/7/17 |
2010/6/1
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城鎮(zhèn)污水處理廠污泥泥質(zhì) |
2009/7/8 |
2010/6/1
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磷酸一銨、磷酸二銨 |
2009/11/30 |
2010/6/1
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